所属单位：微电子与通信工程学院
发表刊物：IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
关键字：Aerospace electronics; electrostatic discharge (ESD); radiation hardening; single-event latch-up (SEL); total ionizing dose (TID); wireline driver
合写作者：Gao Xingguo(外),Xiang Xun(外),Liu Fan(外),李明东(学),黄莎琳(学),Chen Xuewen(外),周喜川,胡盛东,林智,Amine Bermak(外)
第一作者：Xiang Xun
论文类型：期刊论文
通讯作者：唐枋
论文编号：205212
卷号：65
页面范围：566-572
ISSN号：0018-9499
是否译文：否
发表时间：2018-01-01