发布时间：2021-05-13 点击次数：
所属单位：微电子与通信工程学院
发表刊物：IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
关键字：Aerospace electronics; analog integrated circuit; CMOS voltage reference; radiation hardening; single-event latch-up; voltage drift
合写作者：Yang Feng,Liu Fan,Wang Han,Xiang Xun,周喜川,胡盛东,林智,Bermak Amine
第一作者：LiuFan
论文类型：期刊论文
通讯作者：唐枋
论文编号：151592
卷号：64
期号：9
页面范围：6
ISSN号：0018-9499
是否译文：否
发表时间：2017-01-01