职称:副教授 硕士生导师
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所在单位:光电工程学院
学历:博士研究生毕业
在职信息:在职
精密绝对测距技术是指对两点间相对精度达到极高水平(如1×10^-6以上)或绝对精度优于0.1mm的长度测定技术。这种技术在测绘学、工程测量等一级学科中具有重要的应用地位。 技术原理: 精密绝对测距通常基于物理原理,如光的传播、干涉、衍射等,通过精确测量光的传播时间、相位差或频率差等参数,实现高精度的距离测定。 关键技术: 飞行时间法:通过测量光脉冲从发射到接收的时间差来计算距离。这种方法适用于远距离、低精度的测量。 干涉法:利用光的干涉现象,通过测量干涉条纹的变化来计算距离。这种方法具有高精度,但通常适用于短距离测量。 双光梳绝对距离测量技术:基于异步光学采样原理,将对光的测量直接转换到相干电学测量,具有更新速度快、测量精度高等特点。这种技术近年来在航空航天、大地测绘等领域备受关注。 应用领域: 航空航天:用于飞行器的导航、定位、姿态控制等。 大地测绘:用于地形图绘制、地质勘探、资源调查等。 机械制造:用于精密零件的加工、装配和检测。
精密绝对测距技术与三维成像技术的结合可以实现更高精度、更可靠的三维测量和建模。